System de test de Burn-In

Système pour test de Burn-In, permettant de vieillir prématurément des circuits intégrés en vue d'analyse de fiabilité et de qualification. Un programme applicatif, tournant sous Windows, permet à l'utilisateur de configurer et de visualiser les résultats d'exploitation sous forme conviviale.

Compétences mises en œuvre:

• Microcontrôleur 16-bit, firmware contenant un protocole de communication propriétaire
• Algorithme codé en VHDL et configurable pour la génération des formes d'ondes appliquées aux circuits intégrés
• Liaison série RS-485 avec protocole de communication propriétaire
• Conception d'une application IHM sous Windows

Points critiques:

• Coexistence de tests "très faible niveaux" avec des tests de type "courant fort"
• Utilisation continue sur plusieurs mois sans interruption
• Température ambiante normale d'utilisation de 150 °C
• Forte intégration